數(shù)字ORP傳感器通過(guò)電極與水體發(fā)生氧化還原反應(yīng)實(shí)現(xiàn)電位測(cè)量，電極鈍化會(huì)阻礙反應(yīng)進(jìn)行，導(dǎo)致測(cè)量數(shù)據(jù)失真。電極鈍化通常由金屬氧化物沉積、污染物覆蓋或電極表面結(jié)構(gòu)變化引起，掌握科學(xué)的診斷方法是及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決問(wèn)題的前提。

監(jiān)測(cè)傳感器性能參數(shù)是診斷電極鈍化的直觀(guān)方式。當(dāng)電極發(fā)生鈍化時(shí)，最顯著的表現(xiàn)為測(cè)量響應(yīng)時(shí)間延長(zhǎng)。正常狀態(tài)下，傳感器能快速對(duì)水體氧化還原電位變化作出響應(yīng)，而鈍化后的電極因表面反應(yīng)受阻，信號(hào)傳導(dǎo)延遲，從接觸樣品到輸出穩(wěn)定數(shù)據(jù)的時(shí)間明顯增加。同時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性也會(huì)下降，在相同水質(zhì)條件下，讀數(shù)波動(dòng)范圍變大，甚至出現(xiàn)無(wú)規(guī)律跳變，無(wú)法反映真實(shí)的氧化還原電位。此外，電極的基線(xiàn)漂移現(xiàn)象加劇，即使在空白溶液中，測(cè)量值也難以穩(wěn)定在理論電位附近，持續(xù)偏離正常范圍。

分析校準(zhǔn)數(shù)據(jù)能為診斷提供關(guān)鍵依據(jù)。使用標(biāo)準(zhǔn)氧化還原溶液對(duì)傳感器進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，若電極鈍化，校準(zhǔn)曲線(xiàn)的線(xiàn)性相關(guān)系數(shù)會(huì)顯著降低，無(wú)法達(dá)到儀器規(guī)定的精度標(biāo)準(zhǔn)。在重復(fù)性校準(zhǔn)測(cè)試中，同一標(biāo)準(zhǔn)溶液多次測(cè)量的電位值差異過(guò)大，超出允許誤差范圍，說(shuō)明電極表面的氧化還原反應(yīng)一致性變差。對(duì)比歷史校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，若發(fā)現(xiàn)校準(zhǔn)斜率發(fā)生明顯變化，斜率變小意味著電極對(duì)電位變化的敏感度下降，這也是電極鈍化的重要特征。通過(guò)這些校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的異常表現(xiàn)，可進(jìn)一步確認(rèn)電極是否發(fā)生鈍化。

借助專(zhuān)業(yè)檢測(cè)手段能更準(zhǔn)確地判斷電極鈍化情況。采用電化學(xué)阻抗譜（EIS）分析，可檢測(cè)電極表面的阻抗變化，鈍化后的電極由于表面形成隔離層，其電荷轉(zhuǎn)移電阻會(huì)顯著增大，通過(guò)對(duì)比正常狀態(tài)下的阻抗譜圖，能直觀(guān)發(fā)現(xiàn)差異。掃描電子顯微鏡（SEM）可用于觀(guān)察電極表面微觀(guān)結(jié)構(gòu)，若電極表面出現(xiàn)致密的氧化物層、污染物覆蓋層或結(jié)構(gòu)破損，可直接證明電極已發(fā)生鈍化。此外，能譜分析（EDS）可檢測(cè)電極表面元素組成，若發(fā)現(xiàn)異常元素富集，如金屬氧化物或外來(lái)污染物的特征元素，也可輔助診斷電極鈍化問(wèn)題。

通過(guò)性能參數(shù)監(jiān)測(cè)、校準(zhǔn)數(shù)據(jù)分析與專(zhuān)業(yè)檢測(cè)手段相結(jié)合的方式，可系統(tǒng)、準(zhǔn)確地診斷數(shù)字 ORP 傳感器電極的鈍化情況，為后續(xù)采取活化處理或更換電極等措施提供可靠依據(jù)，保障傳感器的測(cè)量精度與使用壽命。